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IC民工不定期更新

BAP

BAP会覆盖掉连接到BAP上的memory的一些默认操作模式;
通过消除串行配置控制器的shift cycle,大大缩短测试时间,代价是在BAP和控制器之间额外的连接;

BAP的高级访问属性部分是通过IJTAG协议进行配置的,这种控制器的配置可能被用来做ATE环境中的制造测试,以及通过 Tessent MissionMode控制器进行的in-system test;
这种系统内测试的方式是一种通用解决方案,允许访问所有的IJTAG网络的元件,包括MBIST控制器;

高级BAP memory access也提供了通过连接到BAP的系统信号直接启动存储器测试的能力,而不是串行的通过IJTAG网络将测试的配置信息和结果输入输出;这种直接的访问接口支持低延迟的协议去配置MBIST控制器,执行GO/NoGo测试,监控测试通过的状态,但是,一些模式的操作比如详细的diagnosis是不可用;

BAP 结构

上图:高级BAP 存储器访问特性由两部分组成: IJTAG网络接口以及BAP的直接访问接口;
BAP的连接是用户配置的直接连接到function 逻辑;
上图右侧的输出端口连接BAP和MBIST的控制器,发送到Mbist控制器的信号被添加到BAP中IJTAG TDRs所配置,或者,如果BAP direct access Interface存在则直接由它来控制;可以通过来自function的系统信号直接控制存储器测试.BAP内的sequencer(序列产生器)能够以低延迟的协议启动和定制存储器测试;在这种实现方式中,使用单个sequencer可以最小化BAP的门面积;sequencer的时钟,sys_clock的频率,应该和IJTAG_tck相当,频率较低,确保生成的控制信号能够以正确的顺序到达MBIST controller;
直接访问接口提供了配置存储器测试的基础选项,可以改变测试算法和操作;你可以选择哪个控制器,哪个step和哪个存储器去基于系统内的测试需要运行测试;比如,如果分配的测试时间有限,可以利用这种灵活性,通过选择具有很少指令的短算法,或者尽在一个存储器上执行MBIST测试;

Repair的分析也可以通过BAP的直接访问接口进行,分析结果通过访问BISR控制器可以用来进行软件,硬件的增量修复;

为每个functional 时钟创建一个sequencer,可以进一步减少开启停止控制器的时间需求,可以更精确的约束在同一时钟域中的sequencer到MBIST 控制器的critical path;

BAP Direct Access interface Pins

BAP的pin的创建是由DFTspec配置的;
指定 DFTspec中的属性:direct_access 为 on,创建 BAP的Direct Access interface;

BAP 直接访问接口的插入

通过 DFTspec 进行配置
MemoryBist{
BistAccessPort {
DirectAccessOptions{
direct_access: on;
}
}
}
对于高级的in-system的用法,使用DFT spec中的ExecutionSelection 字段,根据需要配置系统端的端口;

时钟连接

BAP 直接访问接口支持两种不同的时钟方案,每种方案对sys_clock的连接和信号都有不同的影响;(function时钟和MBIST时钟)
可以通过 DFTspec中的 direct_access_clock_source字段对时钟进行配置;
时钟连接 则使用Connection下DrectAcess/CLockDomain进行配置;
当direct_access_clock_source 被指定为 common时,将在BAP中创建单个test sequencer,管理又有链接的控制器的Memory test;对于此设置,必须指定与系统时钟的连接;
系统logic clock的频率至少要比MBIST的时钟慢4倍,放心,对测试时间没有影响;仅在BAP的test sequencer上使用,使得在没有优化时序路径的时候,sequencer发送的不同的事件有足够的时间传播到控制器.
当direct_access_clock_source 指定为 per_bist_clock_domain时, 将在BAP内部为每个MBIST时钟域创建一个单独的sequencer,每个sequencer的sys_clock会自动连接到 对应时钟域的MBIST的时钟
在任一时钟方案,驱动sys_test_start的系统逻辑可以来自任何时钟域(里面做了同步).