小角X射线散射（SAXS）大多数被用来测定超细粉体、纳米离子分布的有关性质，小角X射线衍射（SAXD）则主要用来测定超大晶面间距或者薄膜结构等等问题，在用途上两种实验并不一致，本篇文章将介绍小角X射线散射和小角X射线衍射的区别。

 

早期小角X射线散射仅指超细颗粒在低角度范围（常指2θ<20°）上的 X射线散射，而现在，小角X射线散射通指在低角度范围（常指 2θ<10°~20°）的 X 射线散射。 

 

X-射线照射到晶体上发生相干散射（存在位相关系）的物理现象叫衍射，即使发生在低角度也是衍射。例如，某相的d值为 31.5Å，相应衍射为2.80°（Cu-Kα），如果该相有很高的结晶度，31.5Å峰还是十分尖锐的。薄膜也能产生取决于薄膜厚度与薄膜微观结构的、集中在小角范围内的 X 射线衍射。在这些情况下，样品的小角X射线散射强度主要来自样品的衍射，称之为小角X射线衍射。对这类样品，人们关心其最大的 d 值 或者是薄膜厚度与结构时，必须研究其小角X射线衍射。 

 

X-射线照射到超细粉末颗粒（粒径小于几百埃，不管其是晶体还是非晶体）也会发生相干散射现象，也发生在低角度区。但是由微细颗粒产生的相干散射图的特征与上述的由超大晶面间距或薄膜产生的小角 X 射线衍射图的特征完全不同。小角衍射，一般应用于测定超大晶面间距或薄膜厚度以及薄膜的微观周期结构、周期排列的孔分布等问题；小角散射则是应用于测定超细粉体或疏松多孔材料孔分布的有关性质 。 

 

X-射线照射到样品上还会发生非相干散射，其强度分别也主要集中在低角度范围，康普顿散射就属于此类，其结果是增加背景。