网络分析仪去嵌方法
一、去嵌目的VNA 校准参考平面在同轴端口,而 DUT 通过夹具、探针、转接器、PCB 走线连接。这些中间环节会引入:额外损耗、相位偏移、阻抗失配、串扰、色散。不去嵌,测得的是「DUT + 中间网络」的混合特性,无法得到 DUT 真实性能;去嵌入对象:夹具板的 Lead-ins 和 Lead-outs 网络 (Connector, Trace, Probe 等)比如芯片测试时,同轴校准件只能校准到夹具板同轴连接器处,这时就需要将左右夹具网络去嵌入,最终得到被测芯片本身测试结果。二、去嵌原理提取 Fixture 网络参数,从测试结果中扣除 Fixture 网络后,剩下 的就是 DUT 本身测试结果。如果被测件和夹具网络是单端的,提取的夹具网络参数文件是 s2p 格式;如果被测件和夹具网络是差分的,提取的夹具网络参数文件是 s4p 格式;
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