华为OD机试双机位C卷-出错的或电路 (C/C++/Py/Java/Js/Go)
出错的或电路华为OD机试双机位C卷真题目录点击查看: 华为OD机试双机位C卷真题题库目录|机考题库 + 算法考点详解华为OD机试双机位C卷 华为OD上机考试双机位C卷 100分题型题目描述某生产门电路的厂商发现某一批次的或门电路不稳定,具体现象为计算两个二进制数的或操作时,第一个二进制数中某两个比特位会出现交换,交换的比特位置是随机的,但只交换这两个位,其他位不变。很明显,这个交换可能会影响最终的或结果,也可能不会有影响。为了评估影响和定位出错的根因,工程师需要研究在各种交换的可能下,最终的或结果发生改变的情况有多少种。输入描述第一行有一个正整数N; 其中1≤N≤1000000。第二行有一个长为N的二进制数,表示或电路的第一个输入数,即会发生比特交换的输入数。第三行有一个长为N的二进制数,表示或电路的第二个输入数。注意第二个输入数不会发生比特交换。输出描述输出只有一个整数,表示会影响或结果的交换方案个数。示例1输入3 010 110/
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