芯片测试主要包括以下方面：
功能测试：检查芯片是否按照预期进行功能操作。这涉及到对芯片内部的各种功能模块进行测试，以确保它们能够正常工作。
性能测试：检查芯片在特定工作负载或条件下的性能。这包括测试芯片在不同频率、电压、温度条件下的表现，以确保其性能满足设计要求。
可靠性和稳定性测试：这类测试是为了确保芯片在长时间或大量使用后不会出现故障。这类测试通常包括对芯片进行高低温、湿度、电压、电流等各种环境条件的测试。
信号完整性测试：用于检测芯片输入和输出信号的质量。这类测试通常关注时钟信号、数据信号、控制信号等是否存在问题。
功耗测试：检查芯片的功耗是否在预期范围内，同时可以评估芯片的电源管理能力。
以上这些是芯片测试中常见的方面，但具体的测试内容和流程可能会因不同的应用场景和设计要求而有所不同。
芯片自动化测试系统ATECLOUD-IC
测试产品：芯片半导体器件。纳米软件ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件综合性能自动化测试。
被测项目：温度测试、耐电压测试、引脚可靠性测试、ESD抗干扰测试、运行测试、X射线侵入测试等。
测试场景：研发测试、产线测试、老化测试、一测二测等。
ATECLOUD-IC测试优势：
支持MCU、Analog IC、ADC、HIC、IGBT及分立器件全方位测试；
ns级高精度同步测试；
人性化操作界面，可快速理解、快速上手；
无代码快速搭建测试工步，灵活调整可快速扩展；
支持多工位高速并行测试；
高效支持表征、功能评估和批量生产评估；
已兼容2000+仪器型号，包含是德、泰克、R&S普源、鼎阳、艾德克斯等厂家，支持设备持续扩展；
具备数据洞察及大数据分析功能，为科研生产提供数据支撑；
适用于研发/中试/生产芯片全生命周期的应用。
